الکترونیک قابلیت اطمینان و فناوری اندازه گیری: ارزیابی غیر مخرب Electronics Reliability and Measurement Technology: Nondestructive Evaluation
- نوع فایل : کتاب
- زبان : انگلیسی
- نویسنده : Joseph S. Heyman
- چاپ و سال / کشور: 1999
- شابک / ISBN : 081551171X, 9780815511717
Description
This book examines electronics reliability and measurement technology. It identifies advances in measurement science and technology for nondestructive evaluation, and it details common measurement trouble spots.
