قابلیت اطمینان Wearout مکانیزم در جوی پیشرفته CMOS فن آوری (IEEE سری مطبوعات در سیستم میکروالکترونیک) Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
- نوع فایل : کتاب
- زبان : انگلیسی
- نویسنده : Alvin W. Strong
- ناشر : Wiley-IEEE Press
- چاپ و سال / کشور: 2009
- شابک / ISBN : 0471731722, 9780471731726
