نقص اتهام نیمه هادی: ساختار، ترمودینامیک و انتشار Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion

• نوع فایل : کتاب
• زبان : انگلیسی
• نویسنده : Edmund G. Seebauer ,Meredith C. Kratzer (auth.)
• ناشر : Springer-Verlag London
• چاپ و سال / کشور: 2009
• شابک / ISBN : 1848820585, 9781848820586